Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, degradation studies, fault currents, cables, power equipment, modeling, numerical analysis, experimental results, overcurrent
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, IBAD process, high rate process, fabrication, long conductors, texture, critical caracteristics, critical current, length
Iijima Y., Osamura K., Sugano M., Nagaya S., Saitoh T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Kato T., Yamada Y., Nakao K., Ibi A., Nakashima N.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, buffer layers, high rate process, microstructure
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, Hall sensor, magnetic field distribution, current distribution, current density, experimental results
Amemiya N., Iijima Y., Saitoh T., Shiohara Y., Ito T., Yazawa T., Koyanagi K., Takigami H., Urata M., Takahashi M., Toba K.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, assembled conductors, ac losses, ac losses, ac losses, experimental results, geometry effects, fabrication
Iijima Y., Nagaya S., Kashima N., Saitoh T., Shiohara Y., Watanabe T., Ishiyama A., Wang X., Ueda H., Machi T., Mori M., Katoh T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, overcurrent, degradation studies, experimental results
Amemiya N., Nakamura T., Ito K., Takeuchi K., Jiang Z., Ohmatsu K., Masuda T., Yagi M., Mukoyama S., Saitoh T., Iijima Y., Kashima N., Nagaya S., Shioharaional Y.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, PLD process, long conductors, template layers, fabrication, critical current density, critical caracteristics, length
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Kato T., Hirayama T., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Miura T.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, buffer layers, IBAD process, texture, microstructure, fabrication
Iijima Y., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Matsuda J., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, PLD process, YBCO, TFA-MOD process, IBAD process, surface, nanoscaled roughness, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, FCL resistive, short circuit test, power equipment, YBCO, FCL three-phase
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.